Szkolenie: Analiza systemów pomiarowych - metoda R&R

Wyszukiwanie
Słowo kluczowe:
Np.: temat, miasto, nazwa organizatora...

Adres WWW wydrukowanej strony: https://eventis.pl//szkolenie/analiza-systemow-pomiarowych---metoda-rr-53682

Informacje o szkoleniu

  • Analiza systemów pomiarowych - metoda R&R


    ID szkolenia: 53682
    Typ: Szkolenia
    Branża/temat: Jakość
  • Adres szkolenia:

    TQMsoft
    ul. Bociana 22a
    31-231 Kraków
    woj. małopolskie
  • Termin szkolenia:

    Data: 15-16.01.2018
    Godziny zajęć (czas trwania):
    2 dni po 8 godzin

    TERMINY:
    14-15.09.2017
    05-06.10.2017
    30.11-01.12.2017
  • Organizator szkolenia:

    TQMsoft
Zadaj pytanie:
Zgłoś uczestnictwo:
Narzędzia: Poleć znajomemu Drukuj
Wyszukaj inne
Szkolenia

Opis szkolenia

Informacje podstawowe o szkoleniu:

Metody określania zdolności systemów pomiarowych dla właściwości mierzalnych wg wytycznych branży motoryzacyjnej. Powtarzalność i odtwarzalność - analiza „R&R”. Niepoprawność, rozdzielczość, stabilność, wskaźniki oceny zdolności, interpretacja i wymagania. Analiza graficzna. Problemy praktyczne planowania i wykonywania oceny zdolności systemów pomiarowych. Ćwiczenia z wykorzystaniem wspomagania komputerowego i przyrządów uniwersalnych do pomiarów wielkości geometrycznych. Gotowe arkusze obliczeniowe dla Uczestników.

Szkolenie skierowane jest do:

Opis adresatów:
· osoby odpowiedzialne za nadzór nad wyposażeniem kontrolno – pomiarowym,
· pracownicy izb pomiarów i laboratoriów pomiarowych,
· osoby odpowiedzialne za dobór przyrządów do kontroli wyrobu / nadzorowania procesu,
· pracownicy działów jakości / kontroli jakości,
· auditorzy wewnętrzni, auditorzy II strony (dostawców), auditorzy III strony (certyfikujący) – szczególnie wg wymagań ISO/TS 16949,
· osoby uczestniczące lub prowadzące projekty Six-Sigma (Green Belt, Black Belt).
Dodatkowe wymagania:
· istotnym ułatwieniem może być wcześniejsze odbycie podstawowego szkolenia z zakresu SPC (Statystycznego Sterowania Procesem)

Program szkolenia:

· Zdolność systemu pomiarowego.

· Przyczyny zmienności wyników pomiarów, pojęcie błędu i niepewności pomiaru.

· Niepewność pomiaru a podejmowanie decyzji w procesie produkcji - skutki błędów pomiaru dla kontroli jakości i dla sterowania procesem.

· Składniki zmienności, wskaźniki i wymagania – powtórka.

· Niepoprawność wskazań (błąd systematyczny).

· Błędy przypadkowe: powtarzalność (EV), odtwarzalność (AV), niepewność standardowa (powtarzalność i odtwarzalność R&R).

· Zmienność całkowita (TV) a zmienność własna procesu (PV).

· Rozdzielczość i rozróżnialność (ndc).

· Wskaźniki zdolności i wymagania dla zadań pomiarowych związanych z kontrolą jakości lub sterowaniem procesem.

· Krótkoterminowa i długoterminowa stabilność systemu pomiarowego: karty kontrolne SPC w zastosowaniu do monitorowania systemu pomiarowego.

· Metodyka badań zdolności systemów pomiarowych.

· Analiza „R&R” metodą średnich i rozstępów (ARM) dla pomiarów „powtarzalnych” – powtórka (wg MSA-4).

· Przypadek pomiaru „niepowtarzalnego” – problemy z określeniem źródeł zmienności.

· Metody monitorowania stabilności systemów pomiarowych dla pomiarów powtarzalnych (procedury S1, S2) oraz niepowtarzalnych (procedury S3, S4, S5a, S5b).

· Pojęcie próbki „homogenicznej”, metody pozyskiwania / przygotowywania.

· Metody badania zdolności systemu pomiarowego w przypadku pomiarów niepowtarzalnych: procedury V3, V3a, V4 – analiza „R&R” z użyciem metody ARM (średnich i rozstępów) „ANOVA Crossed” (krzyżowa) i „ANOVA Nested” (zagnieżdżona).

· Problemy i ograniczenia w interpretacji negatywnych wyników analiz.



Ćwiczenia:• analiza R&R typ 2 metodą średnich i rozstępów – analiza przypadku,• wyznaczanie i interpretacja współczynników zdolności Cg, Cgk – analiza typ 1 (samodzielne pomiary i interpretacja wyników),• ocena zdolności przyrządu dla zadania pomiarowego typu „orzekanie zgodności ze specyfikacją” oraz do zastosowań w SPC (samodzielne pomiary i interpretacja wyników): analiza R&R typ 2 metodą średnich i rozstępów oraz metodą rozstępów, analiza graficzna wyników pomiarów – zaawansowane wnioskowanie o systemie pomiarowym,• opcjonalnie, w zależności od zainteresowań Uczestników: analiza R&R typ 3 – analiza przypadku kontroli automatycznej, analiza stabilności systemu pomiarowego – karta kontrolna Xśr-R – analiza przypadku. Uwagi:o w ramach ćwiczeń może zostać wykonana analiza R&R dla systemu pomiarowego dostarczonego na szkolenie przez Uczestników – wymagany wcześniejszy kontakt z trenerem,o w przypadku przesłania przez Uczestnika nie później niż 14 dni przed szkoleniem opisu konkretnego problemu związanego z analizą R&R, w czasie ćwiczeń może odbyć się wspólna próba jego rozwiązania –wymagana pisemna zgoda Uczestnika na upublicznienie opisu problemu (bez nazw własnych).

Informacje o prelegentach:

trener TQMsoft

Koszt i warunki udziału

Ceny:

  • 1250 - PLN netto/os.

Cena zawiera:

szkolenie, materiały, certyfikat uczestnictwa w szkoleniu, obiady, słodki poczęstunek, możliwość bezpłatnych, krótkich konsultacji do 3 miesięcy po szkoleniu, pomoc w rezerwacji hotelu

Dofinansowanie z UE:

Nie.

Warunki udziału i przyjmowania zgłoszeń:

Karta zgłoszenia- W przypadku podjęcia decyzji o uczestnictwie w szkoleniu proszę o jej uzupełnienie i odesłanie na e-mail: szkolenia@tqmsoft.eu lub na numer faksu: 12 3971 884 albo kontakt : 12 397 18 81.

faktura wystawiona po szkoleniu

Wydarzenie: Analiza systemów pomiarowych - metoda R&R