Analiza systemów pomiarowych - metoda R&R

· Zdolność systemu pomiarowego.

· Przyczyny zmienności wyników pomiarów, pojęcie błędu i niepewności pomiaru.

· Niepewność pomiaru a podejmowanie decyzji w procesie produkcji - skutki błędów pomiaru dla kontroli jakości i dla sterowania procesem.

· Składniki zmienności, wskaźniki i wymagania – powtórka.

· Niepoprawność wskazań (błąd systematyczny).

· Błędy przypadkowe: powtarzalność (EV), odtwarzalność (AV), niepewność standardowa (powtarzalność i odtwarzalność R&R).

· Zmienność całkowita (TV) a zmienność własna procesu (PV).

· Rozdzielczość i rozróżnialność (ndc).

· Wskaźniki zdolności i wymagania dla zadań pomiarowych związanych z kontrolą jakości lub sterowaniem procesem.

· Krótkoterminowa i długoterminowa stabilność systemu pomiarowego: karty kontrolne SPC w zastosowaniu do monitorowania systemu pomiarowego.

· Metodyka badań zdolności systemów pomiarowych.

· Analiza „R&R” metodą średnich i rozstępów (ARM) dla pomiarów „powtarzalnych” – powtórka (wg MSA-4).

· Przypadek pomiaru „niepowtarzalnego” – problemy z określeniem źródeł zmienności.

· Metody monitorowania stabilności systemów pomiarowych dla pomiarów powtarzalnych (procedury S1, S2) oraz niepowtarzalnych (procedury S3, S4, S5a, S5b).

· Pojęcie próbki „homogenicznej”, metody pozyskiwania / przygotowywania.

· Metody badania zdolności systemu pomiarowego w przypadku pomiarów niepowtarzalnych: procedury V3, V3a, V4 – analiza „R&R” z użyciem metody ARM (średnich i rozstępów) „ANOVA Crossed” (krzyżowa) i „ANOVA Nested” (zagnieżdżona).

· Problemy i ograniczenia w interpretacji negatywnych wyników analiz.



Ćwiczenia:• analiza R&R typ 2 metodą średnich i rozstępów – analiza przypadku,• wyznaczanie i interpretacja współczynników zdolności Cg, Cgk – analiza typ 1 (samodzielne pomiary i interpretacja wyników),• ocena zdolności przyrządu dla zadania pomiarowego typu „orzekanie zgodności ze specyfikacją” oraz do zastosowań w SPC (samodzielne pomiary i interpretacja wyników): analiza R&R typ 2 metodą średnich i rozstępów oraz metodą rozstępów, analiza graficzna wyników pomiarów – zaawansowane wnioskowanie o systemie pomiarowym,• opcjonalnie, w zależności od zainteresowań Uczestników: analiza R&R typ 3 – analiza przypadku kontroli automatycznej, analiza stabilności systemu pomiarowego – karta kontrolna Xśr-R – analiza przypadku. Uwagi:o w ramach ćwiczeń może zostać wykonana analiza R&R dla systemu pomiarowego dostarczonego na szkolenie przez Uczestników – wymagany wcześniejszy kontakt z trenerem,o w przypadku przesłania przez Uczestnika nie później niż 14 dni przed szkoleniem opisu konkretnego problemu związanego z analizą R&R, w czasie ćwiczeń może odbyć się wspólna próba jego rozwiązania –wymagana pisemna zgoda Uczestnika na upublicznienie opisu problemu (bez nazw własnych).