Analiza systemów pomiarowych - metoda R&R dla pomiarów niepowtarzalnych

Zdolność systemu pomiarowego.

· Przyczyny zmienności wyników pomiarów, pojęcie błędu i niepewności pomiaru.

· Niepewność pomiaru a podejmowanie decyzji w procesie produkcji - skutki błędów pomiaru dla kontroli jakości i dla sterowania procesem.

· Składniki zmienności, wskaźniki i wymagania – powtórka.

· Niepoprawność wskazań (błąd systematyczny).

· Błędy przypadkowe: powtarzalność (EV), odtwarzalność (AV), niepewność standardowa (powtarzalność i odtwarzalność R&R).

· Zmienność całkowita (TV) a zmienność własna procesu (PV).

· Rozdzielczość i rozróżnialność (ndc).

· Wskaźniki zdolności i wymagania dla zadań pomiarowych związanych z kontrolą jakości lub sterowaniem procesem.

· Krótkoterminowa i długoterminowa stabilność systemu pomiarowego: karty kontrolne SPC w zastosowaniu do monitorowania systemu pomiarowego.

· Metodyka badań zdolności systemów pomiarowych.

· Analiza „R&R” metodą średnich i rozstępów (ARM) dla pomiarów „powtarzalnych” – powtórka (wg MSA-4).

· Przypadek pomiaru „niepowtarzalnego” – problemy z określeniem źródeł zmienności.

· Metody monitorowania stabilności systemów pomiarowych dla pomiarów powtarzalnych (procedury S1, S2) oraz niepowtarzalnych (procedury S3, S4, S5a, S5b).

· Pojęcie próbki „homogenicznej”, metody pozyskiwania / przygotowywania.

· Metody badania zdolności systemu pomiarowego w przypadku pomiarów niepowtarzalnych: procedury V3, V3a, V4 – analiza „R&R” z użyciem metody ARM (średnich i rozstępów) „ANOVA Crossed” (krzyżowa) i „ANOVA Nested” (zagnieżdżona).

· Problemy i ograniczenia w interpretacji negatywnych wyników analiz.



Ćwiczenia:

· Analiza R&R metodą średnich i rozstępów (ARM) – analiza przypadku (powtórka).

· Projektowanie i wykorzystanie kart kontrolnych X-mR, z-R, Xśr-R do monitorowania długoterminowej stabilności systemu pomiarowego (procedury S1, S3, S4, S5a) – rozwiązywanie przypadków indywidualne lub zespołowe (Excel)
w celu zrozumienia sposobu i zakresu stosowania kart stabilności.

· Ocena zdolności przyrządu dla zadania pomiarowego typu „orzekanie zgodności ze specyfikacją” oraz do zastosowań w SPC w celu nabycia umiejętności doboru metody i wykonania badania.

· Procedura V3 oraz V3a (test-retest study) – rozwiązanie przypadku, ćwiczenie obliczeniowe (Excel).

· Analiza R&R metodą „Anova Nested” (procedura V4) – przygotowanie próbki homogenicznej, własnoręczne pomiary i analiza wyników (oprogramowanie MSA).

W przypadku szkoleń zamkniętych: ćwiczenia wykonywane mogą być na bazie próbki wyrobów Klienta; wymaga to wcześniejszego przygotowania próbki przez Klienta w uzgodnieniu z trenerem.