Wyszukiwanie
Słowo kluczowe:
Np.: temat, miasto, nazwa organizatora...

Adres WWW wydrukowanej strony: https://eventis.pl/szkolenie/analiza-systemow-pomiarowych-metoda-rr-dla-pomiarow-niepowtarzalnych-13551

Informacje o szkoleniu

  • Analiza systemów pomiarowych - metoda R&R dla pomiarów niepowtarzalnych


    ID szkolenia: 13551
    Typ: Szkolenia
    Kategoria: Jakość
  • Termin szkolenia:

    Adres szkolenia:

    TQMsoft
    Bociana 22a
    31-231 Kraków
    Godziny zajęć (czas trwania):
    2 dni po 8 godzin
    TERMIN SZKOLENIA:
    16-17.11.2017
  • Organizator szkolenia:

    TQMsoft
Zadaj pytanie:
Zgłoś uczestnictwo:
Narzędzia: Poleć znajomemu Drukuj
Wyszukaj inne
Szkolenia

Opis szkolenia

Informacje podstawowe o szkoleniu:

Metody oceny zdolności systemów pomiarowych (MSA) w przypadku pomiarów niepowtarzalnych (np. niszczących lub zmieniających wielkość mierzoną) wg wytycznych branży motoryzacyjnej (MSA-4). Przegląd i powtórka metod MSA dla pomiarów powtarzalnych. Monitorowanie stabilności systemów pomiarowych w przypadku pomiarów niepowtarzalnych, analiza „R&R” dla pomiarów niepowtarzalnych – ARM, RM, ANOVA. Przykłady, ćwiczenia z wykorzystaniem prostego sprzętu pomiarowego i arkuszy obliczeniowych. Szacowany udział części praktycznej szkolenia: ok. 80%.

Szkolenie skierowane jest do:

• Osoby odpowiedzialne za nadzór nad wyposażeniem kontrolno – pomiarowym. • Pracownicy izb pomiarów i laboratoriów pomiarowych / badawczych. • Osoby odpowiedzialne za planowanie, skuteczność, organizację kontroli jakości lub SPC • Osoby odpowiedzialne za dobór przyrządów / metod kontroli wyrobu / nadzorowania procesu. • Auditorzy wewnętrzni, auditorzy II strony (dostawców), auditorzy III strony (certyfikujący) – szczególnie wg wymagań ISO/TS 16949. • Osoby uczestniczące lub prowadzące projekty Six-Sigma (Green Belt, Black Belt). • Osoby odpowiedzialne za planowanie, skuteczność, organizację kontroli jakości, w tym dobór i nadzór kontrolerów. • Osoby odpowiedzialne za jakość dostaw / dostawców. • Szefowie jakości, pracownicy działów jakości, inżynierowie jakości. • Inżynierowie procesu. • Osoby odpowiedzialne za nowe projekty / wdrożenia nowych wyrobów. • Osoby odpowiedzialne za PPAP w przedsiębiorstwie, szczególnie za raporty MSA.

Program szkolenia:

Zdolność systemu pomiarowego.

· Przyczyny zmienności wyników pomiarów, pojęcie błędu i niepewności pomiaru.

· Niepewność pomiaru a podejmowanie decyzji w procesie produkcji - skutki błędów pomiaru dla kontroli jakości i dla sterowania procesem.

· Składniki zmienności, wskaźniki i wymagania – powtórka.

· Niepoprawność wskazań (błąd systematyczny).

· Błędy przypadkowe: powtarzalność (EV), odtwarzalność (AV), niepewność standardowa (powtarzalność i odtwarzalność R&R).

· Zmienność całkowita (TV) a zmienność własna procesu (PV).

· Rozdzielczość i rozróżnialność (ndc).

· Wskaźniki zdolności i wymagania dla zadań pomiarowych związanych z kontrolą jakości lub sterowaniem procesem.

· Krótkoterminowa i długoterminowa stabilność systemu pomiarowego: karty kontrolne SPC w zastosowaniu do monitorowania systemu pomiarowego.

· Metodyka badań zdolności systemów pomiarowych.

· Analiza „R&R” metodą średnich i rozstępów (ARM) dla pomiarów „powtarzalnych” – powtórka (wg MSA-4).

· Przypadek pomiaru „niepowtarzalnego” – problemy z określeniem źródeł zmienności.

· Metody monitorowania stabilności systemów pomiarowych dla pomiarów powtarzalnych (procedury S1, S2) oraz niepowtarzalnych (procedury S3, S4, S5a, S5b).

· Pojęcie próbki „homogenicznej”, metody pozyskiwania / przygotowywania.

· Metody badania zdolności systemu pomiarowego w przypadku pomiarów niepowtarzalnych: procedury V3, V3a, V4 – analiza „R&R” z użyciem metody ARM (średnich i rozstępów) „ANOVA Crossed” (krzyżowa) i „ANOVA Nested” (zagnieżdżona).

· Problemy i ograniczenia w interpretacji negatywnych wyników analiz.



Ćwiczenia:

· Analiza R&R metodą średnich i rozstępów (ARM) – analiza przypadku (powtórka).

· Projektowanie i wykorzystanie kart kontrolnych X-mR, z-R, Xśr-R do monitorowania długoterminowej stabilności systemu pomiarowego (procedury S1, S3, S4, S5a) – rozwiązywanie przypadków indywidualne lub zespołowe (Excel)
w celu zrozumienia sposobu i zakresu stosowania kart stabilności.

· Ocena zdolności przyrządu dla zadania pomiarowego typu „orzekanie zgodności ze specyfikacją” oraz do zastosowań w SPC w celu nabycia umiejętności doboru metody i wykonania badania.

· Procedura V3 oraz V3a (test-retest study) – rozwiązanie przypadku, ćwiczenie obliczeniowe (Excel).

· Analiza R&R metodą „Anova Nested” (procedura V4) – przygotowanie próbki homogenicznej, własnoręczne pomiary i analiza wyników (oprogramowanie MSA).

W przypadku szkoleń zamkniętych: ćwiczenia wykonywane mogą być na bazie próbki wyrobów Klienta; wymaga to wcześniejszego przygotowania próbki przez Klienta w uzgodnieniu z trenerem.

Informacje o prelegentach:

trener TQMsoft, specjalista – praktyk

Koszt i warunki udziału

Ceny:

  • 1590 PLN netto/os.

Cena zawiera:

Cena szkolenia obejmuje: szkolenie, materiały, certyfikat uczestnictwa w szkoleniu, obiady, słodki poczęstunek, możliwość bezpłatnych, krótkich konsultacji do 3 miesięcy po szkoleniu, pomoc w rezerwacji hotelu oraz bezpłatny dostęp do elektronicznych materiałów szkoleniowych w systemie Biblioteka TQMsoft.

Dofinansowanie z UE:

Nie.

Warunki udziału i przyjmowania zgłoszeń:

Zgłoszenie uczestnictwa w postaci Karty zgłoszenia- W przypadku podjęcia decyzji o uczestnictwie w szkoleniu proszę o jej uzupełnienie i odesłanie na e-mail: szkolenia@tqmsoft.eu lub na numer faksu: 12 3971 884 albo kontakt : 12 397 18 81.


Płatność za szkolenie następuje na podstawie faktury otrzymanej po szkoleniu w terminie 14 dni.

Wydarzenie: Analiza systemów pomiarowych - metoda R&R dla pomiarów niepowtarzalnych