Metody statystyczne w kontroli dostaw

1. Wprowadzenie.

• Narzędzia statystyczne w zarządzaniu jakością w kontekście wymagań ISO 9001:2015 (ciągłe doskonalenie, zarządzanie ryzykiem).
• Charakterystyka Raportu Technicznego ISO/TR 10017: 2005 „Wytyczne dotyczące technik statystycznych odnoszących się do ISO 9001:2000”, podstawowe terminy wg PN-ISO 3534-2:2003 „Statystyczne sterowanie jakością. Terminologia i symbole”.
• Przegląd metod statystycznych w kontroli dostaw.
• Zestawienie norm ISO (i innych dokumentów) związanych z metodami statystycznymi w kontroli dostaw.

2. Metodyka badań statystycznych, statystyczne miary jakości.

• Partia, próbka, tworzenie próbki (rodzaje losowania, weryfikacja losowości), próbka mała, próbka duża.
• Statystyka opisowa oraz statystyka matematyczna.
• Podstawowe metody opisu zbioru danych: histogram (rozkład empiryczny), rozkład teoretyczny, parametry opisowe (średnia, mediana, rozstęp, odchylenie standardowe), graficzne metody prezentacji danych (histogram, wykres pudełkowy).
• Rozkład normalny: parametry, obliczanie frakcji realizacji poza granicami/granicą specyfikacji, reguła trzech sigma, graficzny test normalności.
• Miary jakości w przypadku oceny alternatywnej – frakcja jednostek niezgodnych, liczba niezgodności na 100 jednostek, rozróżnienie wada/niezgodność.
• Miary jakości w przypadku parametrów mierzalnych – frakcja realizacji poza granicami /granicą specyfikacji, współczynniki zdolności Cp/Pp, Cpk/Ppk.

3. Statystyczne plany odbiorcze.

• Podstawowe pojęcia – granica akceptowanej jakości (AQL), jakość graniczna (LQ), średnia jakość po kontroli (AOQ), graniczna średnia jakość po kontroli (AOQL), rodzaje kontroli.
• Ocena alternatywna – plany odbiorcze według oceny alternatywnej (wg PN-ISO 2859-0, PN-ISO 2859-1, PN-ISO 2859-2, PN-ISO 2859-3, PN-ISO 2859-4), inne możliwości (np. plany z zerową liczbą kwalifikującą).
• Ocena ze względu na parametry mierzalne – plany odbiorcze dla właściwości mierzalnych (wg PN-ISO 3951). Sekwencyjne plany odbiorcze (m.in. wg ISO 8422).

4. Weryfikacja wybranych hipotez statystycznych – testy statystyczne.

• Testy do weryfikacji hipotez: o wartości średniej, wariancji, frakcji, o równości dwóch wartości średnich, dwóch wariancji, dwóch frakcji.

5. Elementy statystycznego sterowania procesem (SPC).

• Kontrola procesu a kontrola odbiorcza.
• Ocena i interpretacja współczynników zdolności Cp, Cpk, Pp, Ppk. Karty kontrolne dla właściwości mierzalnych i według oceny alternatywnej – uwagi o konstrukcji, szczegółowa interpretacja.
• Możliwości łączenia metod SPC ze statystycznymi planami odbiorczymi – plany (plany z rodziny CSP: CSP-1, CSP-2, CSP-3, itp – Continuous Sampling Plans).

6. Zarządzanie sprzętem pomiarowym, weryfikacja zdatności systemów pomiarowych (elementy MSA).

• Kryteria zdatności systemu pomiarowego do nadzorowania/kontroli/odbioru produktu – kwalifikacja w odniesieniu do parametrów mierzalnych, kwalifikacja w odniesieniu do oceny atrybutowej.

7. Podsumowanie, dyskusja.

Ćwiczenia:

• Obliczanie empirycznej (z próbki) oraz spodziewanej (procesowej)frakcji realizacji poza granicami specyfikacji.
• Dobór statystycznego planu odbiorczego według oceny alternatywnej (wg PN-ISO 2859-0, PN-ISO 2859-1, PN-ISO 2859-2, PN-ISO 2859-3, PN-ISO 2859-4) – zasady wyboru planu, interpretacja funkcjonowania.
• Dobór statystycznego planu odbiorczego w przypadku parametrów mierzalnych (wg PN-ISO 3951) – zasady wyboru planu, interpretacja funkcjonowania.
• Konstrukcja sekwencyjnego planu odbiorczego (wg ISO 8422) – zasada wyboru, interpretacja w zakresie funkcjonowania.
• Testowanie wybranych hipotez statystycznych.
• Obliczanie liczności próbki gwarantującej określoną dokładność oceny statystycznej.
• Interpretacja współczynników zdolności Cp, Cpk, Pp, Ppk w aspekcie jakości dostawy.
• Pozyskiwanie informacji o zachowaniu się procesu (także dostawcy) na podstawie kart kontrolnych Shewharta.
• Interpretacja wyników oceny zdatności systemów pomiarowych (parametry mierzalne/kwalifikacja atrybutowa).