SPC ( Statystyczna kontrola procesu) + MSA (Analiza systemów pomiarowych )

SPC - Statystyczne Sterowanie Procesami
Cel SPC
Co to jest proces
Informacje o osiągach procesu
Oddziaływanie na proces
Oddziaływanie na wyjściu
Rodzaje kart kontrolnych
Krótkoterminowe i długoterminowe wskaźniki zdolności procesu
Zmienność procesu
Wskaźniki zdolności procesów
Przyczyny zmienności procesu
Sterowanie procesem
Analiza kart kontrolnych
Analiza trendów

MSA - Analiza Systemów Pomiarowych

Podstawowe pojęcia statystyczne związane z MSA
Charakterystyka pomiarów
Źródła błędów pomiarowych
Wzorcowanie i kalibracja, spójność pomiarowa
Zmienność, liniowość i stabilność w systemach pomiarowych
Metodyka wyznaczania zdolności urządzenia pomiarowego Cg i Cgk (Procedura I)
Powtarzalność i odtwarzalność systemu pomiarowego - metoda R&R (Procedura II)
Wyznaczaniu Cg i Cgk – ćwiczenia praktyczne
Analiza R&R dla danych ciągłych – ćwiczenia praktyczne
Błędy I i II rodzaju
Rodzaje atrybutowych analiz R&R
Analiza R&R dla danych atrybutowych metodą analityczną - omówienie i ćwiczenia
Analiza R&R dla danych atrybutowych metodą wykrywania sygnału - omówienie i ćwiczenia
Analiza R&R dla danych atrybutowych metodą wyznaczania współczynnika kappa - omówienie i ćwiczenia
Wykres zdolności sprawdzianu (GPC – Gauge Performance Curve)
interpretacja wyników analiz pod kątem identyfikacji przyczyn błędów i doskonalenia kontroli