O szkoleniu
Szkolenie jest adresowane do osób odpowiedzialnych za wykorzystanie i rozwijanie wykorzystania metod statystycznych do sterowania procesami. Tematyka szkolenia może zainteresować technologów, inżynierów procesów oraz pełnomocników ds. systemu zarządzania jakością.
Program szkolenia
DZIEŃ I (SPC)
1. Wprowadzenie do programu Minitab
- wykorzystanie arkusza danych, wprowadzanie danych, obsługiwane formaty
- definiowanie i obsługa projektów
- interfejs Minitab
- dostosowanie programu do użytkownika - opcje
2. Podstawowa analiza statystyczna
- obliczanie parametrów opisowych
- graficzna prezentacja danych (histogram, wykresy pudełkowe, graficzny test normalności)
3. Statystyczne sterowanie procesem (SPC)
- procedura identyfikacji postaci rozkładu
- ocena zdolności procesu w przypadku rozkładu normalnego (Cp, Cpk, Pp, Ppk)
- ocena zdolności procesu w przypadku rozkładów innych od rozkładu normalnego - transformacja Boxa-Coxa, transformacja Johnsona
- konstrukcja kart kontrolnych Shewharta
DZIEŃ II (MSA)
4. Analiza systemów pomiarowych (MSA)
- ocena systemu pomiarowego ze względu na poprawność – wyznaczanie i ocena istotności błędu systematycznego, ocena liniowości i stabilności
- ocena systemu pomiarowego ze względu na precyzję - wyznaczanie powtarzalności i odtwarzalności - metodą średniej i rozstępu (R&R) oraz metodą analizy wariancji (ANOVA)
- wyznaczanie współczynników zdolności systemu pomiarowego Cg, Cgk
- analiza systemu pomiarowego w przypadku danych atrybutowych
Uczestnik na czas trwania szkolenia powinien dysponować własnym laptopem z oprogramowaniem Minitab.
ĆWICZENIA
Ćwiczenia indywidualne na stanowiskach komputerowych z wykorzystaniem programu Minitab 16
- podstawowa statystyczna analiza danych (parametry opisowe, histogram, graficzny test normalności)
- ocena zdolności procesu w przypadku rozkładu normalnego (Cp, Cpk, Pp, Ppk)
- transformacja Boxa-Coxa, transformacja Johnsona
- procedura identyfikacji rozkładu
- ocena zdolności procesu w przypadku rozkładu innego od rozkładu normalnego
- konstrukcja kart kontrolnych w przypadku parametrów mierzalnych (X-R, X-s, IX-MR)
- wyznaczanie współczynników zdolności systemu pomiarowego Cg, Cgk
- ocena powtarzalności i odtwarzalności systemu pomiarowego – metoda średniej i rozstępu R&R, metoda analizy wariancji (ANOVA)
Czas trwania
Prelegenci
Trener SGP
Terminy i miejsca
Zapoznaj się z aktualnymi terminami tego szkolenia bądź zapisz na powiadomienia o nowych terminach.
Częstochowa
woj. śląskie
Rejestracja
- udział w zajęciach
- materiały szkoleniowo-konferencyjne
- certyfikat uczestnictwa
- serwis obiadowy
- przerwy kawowe
- 6.71% przy zgłoszeniu min. 3 osób
- 6.71% przy zgłoszeniu min. 4 osób
- 6.71% przy zgłoszeniu min. 5 osób Rozwiń
Termin nieaktualny. Wybierz inny termin powyżej, bądź wypełnij formularz, aby zapytać o planowane nowe terminy.
Organizator
Najczęściej zadawane pytania
Prosimy o wypełnienie formularza zgłoszenia dostępnego na górze strony. Po jego otrzymaniu skontaktujemy się, aby potwierdzić zgłoszenie i przekazać wszystkie informacje organizacyjne.
- Chcesz wiedzieć więcej? Napisz do nas! lub zadzwoń!
Masz pytania? Napisz do nas
