Szkolenie: Statystyczne sterowanie procesem SPC - szkolenie zaawansowane

Wyszukiwanie
Słowo kluczowe:
Np.: temat, miasto, nazwa organizatora...
Kategoria:

Adres WWW wydrukowanej strony: https://eventis.pl//szkolenie/statystyczne-sterowanie-procesem-spc---szkolenie-zaawansowane-35241

Informacje o szkoleniu

  • Statystyczne sterowanie procesem SPC - szkolenie zaawansowane


    ID szkolenia: 35241
    Kategoria: Szkolenia i Kursy
    Branża/temat: Jakość
  • Adres szkolenia:

    TQMsoft
    Bociana 22a
    31-231 Kraków
    woj. małopolskie
  • Termin szkolenia:

    Data: 15-16.01.2018
    Godziny zajęć (czas trwania):
    1 dzień - 7 godzin

    TERMIN:
    18.10.2017
  • Organizator szkolenia:

    TQMsoft
Zadaj pytanie:
Zgłoś uczestnictwo:
Narzędzia: Poleć znajomemu Drukuj
Wyszukaj inne
Szkolenia i Kursy

Opis szkolenia

Informacje podstawowe o szkoleniu:

Wykorzystanie metod SPC w monitorowaniu, ocenie zachowania oraz doskonaleniu procesów produkcyjnych. Wyznaczanie współczynników zdolności procesu - rozkład inny od normalnego, niesymetryczne granice specyfikacji, zdolność w przypadku oceny alternatywnej, dokładność oceny współczynników zdolności. Zakładanie i prowadzenie kart kontrolnych innych od kart Shewharta – karty EWMA, CUSUM, z poszerzonymi liniami, odbiorcze. Karty kontrolne w przypadku krótkich serii. Analiza czułości kart kontrolnych. Wzajemne relacje pomiędzy SPC i MSA. Przykłady, studium przypadków, ćwiczenia.

Szkolenie skierowane jest do:

• Osoby odpowiedzialne za wdrożenie, utrzymanie i doskonalenie procedur SPC w przedsiębiorstwie, • osoby odpowiedzialne za jakość, pracownicy działów zapewnienia jakości, inżynierowie jakości, technolodzy, analitycy, • osoby realizujące projekty doskonalące w procesie produkcyjnym.

Program szkolenia:

· Wprowadzenie, powtórka wiadomości z zakresu podstawowego SPC. Podstawy SPC - pojęcia procesu stabilnego (pod kontrolą) i rozregulowanego (poza kontrolą) w znaczeniu statystycznym, statystyczny opis zbioru danych, ocena zdolności procesu, konstrukcja i posługiwanie się kartami kontrolnymi Shewharta.
· Szczegółowa analiza zdolności procesu. Współczynniki zdolności jakościowej procesu: Cp, Cpk, Pp, Ppk – obliczanie, dokładność oceny (przedziały ufności) i interpretacja. Zależności pomiędzy współczynnikami Cp, Cpk, Pp, Ppk. Współczynniki zdolności maszyny Cm, Cmk. Współczynniki zdolności procesu w przypadku niesymetrycznych granic specyfikacji. Wyznaczanie i interpretacja współczynników zdolności w przypadku rozkładów innych od rozkładu normalnego – metody transformacji rozkładu, metoda Clementsa. Współczynnik drugiej generacji Cmk, inne współczynniki zdolności np.: Tp, Tpk. Relacja pomiędzy współczynnikami zdolności a sigmową skalą jakości w Six Sigma. Ocena zdolności procesu w przypadku oceny alternatywnej.

· Karty kontrolne. Czułość kart kontrolnych – dobór liczności próbki, dobór częstości próbkowania, średnia długość przebiegu (ARL), średni czas do zarejestrowania sygnału (ATS). Karta ruchomej średniej (MA), karta wykładniczo ważonej ruchomej średniej (EWMA), karta sum skumulowanych (CUSUM), karta kontrolna z poszerzonymi liniami (dla procesów z Cpk powyżej 1,6), karta kontrolna akceptacji procesu – wyznaczanie linii kontrolnych, właściwy dobór parametrów, interpretacja (czytanie karty), porównania z kartami kontrolnymi Shewharta. Karta kontrolna ważonej liczby niezgodności na jednostkę – konstrukcja, interpretacja, postępowanie w przypadku bardzo dobrych poziomów jakości. Klasyczne karty kontrolne (Shewharta) w przypadku zmiennej liczności próbki.

· Wybrane karty kontrolne w przypadku krótkich serii. Kontrola wstępna – prekontrola, konstrukcja i opis „tęczowej” karty, karta odchyleń od wartości nominalnej (DNOM), karty standaryzowane – konstrukcja, interpretacja.

· Wzajemne relacje pomiędzy SPC a nadzorowaniem aparatury kontrolno-pomiarowej (MSA). Współczynniki zdolności systemu pomiarowego Cg, Cgk, wpływ systemu pomiarowego na wyniki oceny zdolności procesu, oznaki niedostatecznej czułości systemu pomiarowego – identyfikacja danych obciążonych błędem grubym.



Ćwiczenia:

SPC podstawowe – przypomnienie. Obliczanie spodziewanej frakcji realizacji poza granicami specyfikacji, ocena podstawowych współczynników zdolności procesu, konstrukcja i posługiwanie się kartami kontrolnymi Shewharta
Wyznaczanie współczynników zdolności procesu w przypadku rozkładów innych od rozkładu normalnego (metoda Clementsa), wyznaczanie współczynników zdolności w przypadku niesymetrycznych granic specyfikacji, wyznaczanie przedziałów ufności dla współczynników zdolności.
Konstrukcja kart kontrolnych MA, CUSUM, EWMA, analiza porównawcza z kartami kontrolnymi Shewharta.
Konstrukcja i interpretacja karty prekontroli, konstrukcja i interpretacja karty odchyleń od wartości nominalnej DNOM.

Informacje o prelegentach:

Trener TQMsoft - specjalista praktyk w dziedzinie statystycznych narzędzi jakości

Wydarzenia towarzyszące:

Statystyczne narzędzia w zarządzaniu jakością - przegląd

Koszt i warunki udziału

Ceny:

  • 1400 - PLN netto /os

Cena zawiera:

Cena szkolenia obejmuje: szkolenie, materiały, certyfikat uczestnictwa w szkoleniu, obiady, słodki poczęstunek, możliwość bezpłatnych, krótkich konsultacji do 3 miesięcy po szkoleniu, pomoc w rezerwacji hotelu oraz bezpłatny dostęp do elektronicznych materiałów szkoleniowych w systemie Biblioteka TQMsoft.

Dofinansowanie z UE:

Nie.

Warunki udziału i przyjmowania zgłoszeń:

Zgłoszenie na podstawie karty zgłoszenia.
Płatność po szkoleniu

Szkolenie, kurs: Statystyczne sterowanie procesem SPC - szkolenie zaawansowane