Szkolenie

VDA 5 - analiza systemów pomiarowych wg wymagań VDA

O szkoleniu

Zapraszamy na 2-dniowe szkolenie prowadzone w trybie stacjonarnym i online. Celem szkolenia jest:
- poznanie wymagań dotyczących metod oceny zdolności i kwalifikacji systemów pomiarowych oraz systemów kontroli alternatywnej („atrybutowej”), wg podręcznika „Quality Management in the Automotive Industry. Capability of Measurement Processes”, VDA 5, July 2011.
- nabycie umiejętności praktycznego wykorzystania i interpretacji wyników kwalifikacji systemów pomiarowych/systemów kontroli alternatywnej, według VDA 5.
Dlaczego warto wziąć udział?

Uczestnik uczy się:

  • Identyfikować zapotrzebowanie na stosowanie metod kwalifikacji procesów i systemów pomiarowych / systemów kontroli alternatywnej („atrybutowej”), według wymagań VDA 5.
  • Dokonywania wyboru metod kwalifikacji procesów/systemów pomiarowych według VDA 5.
  • Praktycznego posługiwania się narzędziami kwalifikacji procesu/systemu pomiarowego według VDA 5 – zasady rachunkowe i interpretacyjne. 

Uczestnik dowie się:

  • Jakie są wymagania VDA 5 odnośnie kwalifikacji procesów i systemów pomiarowych / systemów kontroli alternatywnej („atrybutowej”).
  • Według jakich kryteriów ocenia się zdatność procesu i systemu pomiarowego według VDA 5.
  • Jak interpretować wyniki kwalifikacji procesów i systemów pomiarowych według VDA 5.
Kto powinien wziąć udział?

Adresaci:

  • Osoby zajmujące się metrologią, kwalifikacją systemów pomiarowych, inżynierowie jakości.
  • Pracownicy działów rozwoju.
  • Liderzy i członkowie zespołów doskonalących.

Program szkolenia

  • Wprowadzenie. IATF 16949:2016 – znaczenie i wymagania odnośnie pomiaru. Ogólna charakterystyka podręcznika „Quality Management in the Automotive Industry. Capability of Measurement Processes”, VDA 5, July 2011, zakres wykorzystania. Dokumenty związane – Przewodnik wyrażania niepewności pomiaru JCGM 100:2008, związane normy ISO, DIN.
  • Definicje, terminologia. Pomiar, proces pomiarowy, system pomiarowy, zmienność procesu pomiarowego (źródła zmienności), rozdzielczość (resolution), błąd pomiaru, rodzaje błędów – przypadkowy, systematyczny, błędy grube (outliers), maksymalny dopuszczalny błąd pomiaru (error limit) MPE, niepewność pomiaru, wynik oceny – dowód zgodności/niezgodności z tolerancją ze względu na niepewność (wg ISO 14253).
  • Statystyczny opis zmienności. Podstawowe parametry opisowe (statystyki) – średnia arytmetyczna, rozstęp, wariancja, odchylenie standardowe, rozkład empiryczny, rozkład teoretyczny, rozkład normalny (Gaussa).
  • Niepewność pomiaru, ocena niepewności, budżet niepewności. Niepewność standardowa (u), niepewność rozszerzona (U), współczynnik poszerzenia (k), niepewność złożona (uc). Metody szacowania niepewności (A – empirycznie, B – analitycznie). Ocena złożonej niepewności pomiarowej, współczynnik czułości (sensitivity coefficient), konstrukcja budżetu niepewności.
  • Kryteria kwalifikacji procesu/systemu pomiarowego ze względu na niepewność. Wyznaczanie i interpretacja współczynników (capability ratios) QMP (dla procesu pomiarowego) oraz QMS (dla systemu pomiarowego). Kryteria kwalifikacji procesu/systemu pomiarowego ze względu na złożoną niepewność rozszerzoną procesu pomiarowego UMP oraz złożoną niepewność rozszerzoną systemu pomiarowego UMS. Odniesienie współczynnika QMP do procesu (uwzględnienie współczynników zdolności procesu). Wyznaczenie i interpretacja minimalnej szerokości zakresu specyfikacji TOLMIN-UMP , TOLMIN-UMS.
  • Technika kwalifikacji procesu/systemu pomiarowego. Wyznaczanie komponentów niepewności (od rozdzielczości, kalibracji, powtarzalności, odtwarzalności - w tym interakcji, błędu systematycznego, liniowości, stabilności, zmienności w obrębie części, temperatury). Wyznaczanie złożonej oraz rozszerzonej niepewności pomiarowej UMP i UMS. Wyznaczanie współczynników: QMP ,QMS , TOLMIN-UMP , TOLMIN-UMS. Wyznaczanie i interpretacja współczynników zdolności urządzenia pomiarowego Cg , Cgk oraz błędu systematycznego (bias) B (Type I Study).
  • Analiza wariancji (ANOVA) w kwalifikacji procesu/systemu pomiarowego. Zasada analizy wariancji (ANOVA) – jednoczynnikowa analiza wariancji, dwuczynnikowa analiza wariancji, interakcja. Wykorzystanie ANOVAw kwalifikacji systemu pomiarowego ze względu na powtarzalność i odtwarzalność.
  • Analiza regresji liniowej w kwalifikacji procesu/systemu pomiarowego. Zasada analizy regresji. Wyznaczanie równania linii prostej regresji. Wykorzystanie analizy regresji w ocenie liniowości.
  • Kwalifikacja procesu pomiarowego w przypadku oceny alternatywnej. Kwalifikacja bez wykorzystania wartości referencyjnych – technika przeprowadzenia oceny, test niezależności chi-kwadrat (Bowker Test), zasady wnioskowania. Kwalifikacja z wykorzystaniem wartości referencyjnych (metoda długa, współczynnik zgodności ocen kappa Cohena) – zgodnie z „Measurement System Analysis - MSA)” AIAG, 4th Ed., 2010.  Ocena rozszerzonej niepewności pomiarowej dla procesu pomiarowego UATTR oraz kwalifikacja procesu pomiarowego na podstawie współczynnika QATTR (szczególny sposób wykorzystania metody detekcji sygnałów opisanej w „Measurement System Analysis - MSA” AIAG, 4th Ed., 2010).
  • Podsumowanie, dyskusja. Porównanie wymagań i technik kwalifikacji systemów pomiarowych według VDA 5 oraz AIAG („Measurement System Analysis - MSA)”,4th Ed., 2010).

Ćwiczenia:

  • Ogólna statystyczna analiza danych (parametry opisowe, histogram, rozkład normalny, graficzny test normalności, identyfikacja wyników izolowanych – test Grubbsa).
  • Ocena komponentów niepewności, wyznaczanie budżetu niepewności.
  • Kwalifikacja procesu pomiarowego i systemu pomiarowego według wymagań VDA 5 – studium przypadków.
  • Kwalifikacja procesu pomiarowego i systemu pomiarowego według wymagań VDA 5 – przykłady rachunkowe.
  • Ocena zdolności urządzenie pomiarowego – wyznaczanie i interpretacja współczynników zdolności Cg, Cgk oraz błędu systematycznego B. Ocena istotności statystycznej błędu systematycznego B – test t-Studenta.
  • Ocena powtarzalności (EV) za pomocą jednoczynnikowej analizy wariancji (ANOVA).
  • Ocena powtarzalności (EV) i odtwarzalności (AV) za pomocą dwuczynnikowej analizy wariancji (dwuczynnikowa ANOVA z interakcją, bez interakcji).
  • Ocena liniowości z wykorzystaniem analizy regresji liniowej.
  • Analiza porównawcza kwalifikacji systemu pomiarowego według VDA 5 oraz AIAG.
  • Kwalifikacja procesu pomiarowego w przypadku oceny alternatywnej – test chi kwadrat.
  • Kwalifikacja procesu pomiarowego w przypadku oceny alternatywnej – metoda długa (według AIAG), wyznaczanie współczynnika zgodności ocen kappa Cohena.

Czas trwania

2 dni po 7 godzin

Prelegenci

Cytat

Trener TQMsoft

Gdzie i kiedy

Kraków 21 - 22 października 2021
TQMsoft

31-231 Kraków

Bociana 22a

woj. małopolskie

Zapisz się

Szkolenie stacjonarne
za osobę
1750 PLN
+23% VAT
Cena zawiera:
  • udział w zajęciach
  • materiały szkoleniowo-konferencyjne
  • certyfikat uczestnictwa
  • serwis obiadowy
  • przerwy kawowe
Zapisz się

Organizator

TQMsoft
31-231 Kraków
Bociana 22a
woj. małopolskie
Od 1996 roku wspieramy naszych Klientów w doskonaleniu jakości i produktywności. Usprawniamy procesy Klientów dostarczając i wdrażając najwyższej klasy produkty i usługi. Pomagamy doskonalić kompetencje techniczne i osobiste pracowników różnych sz...
FAQ

Najczęściej zadawane pytania

Prosimy o przejście do sekcji Zapisz się, aby wypełnić formularz zgłoszenia w wydarzeniu. Po jego wysłaniu organizator skontaktuje się celem potwierdzenia przyjęcia zgłoszenia i przekazania szczegółów organizacyjnych.

Prosimy o wypełnienie formularza zgłoszenia dostępnego na górze strony. Po jego otrzymaniu skontaktujemy się, aby potwierdzić zgłoszenie i przekazać wszystkie informacje organizacyjne.


Kontakt

Masz pytania? Napisz do nas

Wypełnij formularz

Uzupełnij pole
Wybierz termin wydarzenia
Uzupełnij pole
Uzupełnij pole
Uzupełnij wiadomość
Potwierdź, że nie jesteś botem.
Musisz zaakceptować regulamin.

Dane kontaktowe

TQMsoft
31-231 Kraków Bociana 22a
Darmowy biuletyn informacyjny

Zapisz się do newslettera i otrzymuj powiadomienia o nowych wydarzeniach!