Wyszukiwanie
Słowo kluczowe:
Np.: temat, miasto, nazwa organizatora...

Adres WWW wydrukowanej strony: https://eventis.pl//szkolenie/spc-statystyczne-sterowanie-procesem--msa-analiza-systemow-pomiarowych-73853-id1217

Informacje o szkoleniu

SGP Training&Consulting przy SGP Sp. z o.o.
Zadaj pytanie:
Zgłoś uczestnictwo:
Wyszukaj inne
Szkolenia

Opis szkolenia

Informacje podstawowe o szkoleniu:

Celem szkolenia jest zapewnienie bieżącej kontroli procesu, zrozumienie zmienności procesu oraz jego osiągów a także zapewnienie lepszego zrozumienia źródeł zmienności wpływających na wyniki pomiarów

Szkolenie skierowane jest do:

Szkolenie jest adresowane do osób odpowiedzialnych za wykorzystanie i rozwijanie wykorzystania metod statystycznych do sterowania procesami. Tematyka szkolenia może zainteresować technologów, inżynierów procesów oraz pełnomocników ds. systemu zarządzania jakością.

Program szkolenia:

Moduł I - SPC
1. Powtórzenie podstaw SPC

  • Do czego służy SPC
  • Po co komu jest SPC
  • Korzyści płynące z SPC

2. Zasady działania kart kontrolnych?

  • Zmienność naturalna i specjalna w procesie
  • Karta kontrolna jako filtr szumów i sygnałów z procesu
  • Sygnały płynące z karty kontrolnej (tzw. zasady Nelsona i ich interpretacja)
  • Dyskusja z grupą

3. Podstawowe karty kontrolne

  • Metody wyznaczania linii kontrolnych dla podstawowych kart kontrolnych (X-Chart, I Chart,
  • I-MR, X-R, karta N, P, NP)
  • Projektowanie karty kontrolnej dla procesu (ćwiczenie w grupach)

4. Reakcja na sygnały karty kontrolnej

  • Rola operatora, koordynatora, inżyniera w procesie
  • Rzeczywiste przykłady zadziałania kart kontrolnych

5. Analiza procesu z zastosowaniem kart kontrolnych 

  • Ocena stabilności procesu na przykładzie zebranych danych (ćwiczenie w grupach)
  • Dyskusja z grupą

6. Ocena zdolności procesu

  • Wskaźniki Cp, Cpk, Pp, Ppk oraz pokrewne i ich interpretacja
  • Obliczanie zdolności procesu w Minitabie (ćwiczenie w grupach)
  • Wdrażanie kultury SPC w organizacji, przyczyny porażek i sukcesów

Moduł II - MSA
1. Powtórzenie podstawowych zagadnień MSA

  • Zmienność całkowita w procesie i wpływ pomiaru
  • Pomiar, proces i SPC
  • Wyciąg z wymagań norm MSA (AIAG, Bosch, etc.)
  • Dyskusja z grupą

2. Składowe zmienności systemu pomiarowego

  • Diagram Ishikawy dla źródeł zmienności w systemie pomiarowym
  • Poprawa systemu pomiarowego jako projekt

3. Podstawowe metody analizy R&R dla danych ciągłych

  • Metoda rozstępów, metoda średnich i rozstępów, metoda ANOVA
  • Wskaźniki Cg, Cgk, %EV, %AV, %R&R, %PV, NDC i ich interpretacja
  • Inne procedury analizy systemów pomiarowych
  • Kryteria akceptowalności systemów

4. Analiza R&R

  • Wprowadzenie do Minitaba
  • Zebranie danych do badanego systemu pomiarowego, przygotowanie próbek (wstęp do ćwiczenia)
  • Analiza systemu pomiarowego wybranymi metodami w Minitabie (ćwiczenie indywidualne i grupowe)
  • Porównanie metod analizy R&R i interpretacja

5. Organizacja badań R&R

  • Dobór próby, operatorów, warunków badania
  • Wpływ doboru na wyniki analiz: dyskusja z grupą

6. Przykłady analiz rzeczywistych i dyskusja

  • Przykłady rzeczywiste pozytywne i negatywne
  • Dyskusja z grupą

Informacje o prelegentach:

Trener SGP

Koszt i warunki udziału

Ceny:

  • 1390 zł + 23% VAT za osobę
  • 1290 zł + 23% VAT za osobę przy zgłoszeniu powyżej 2 osób

Cena zawiera:

proces szkolenia, sala szkoleniowa, materiały szkoleniowe w formie książkowej wraz z długopisem, wszelkie koszty związane z trenerem, imienny certyfikat uczestnictwa w szkoleniu, przerwy kawowe, obiad, poszkoleniowe konsultacje z trenerem.

Dofinansowanie z UE:

Nie.

Warunki udziału i przyjmowania zgłoszeń:

Prosimy o wypełnienie formularza zgłoszenia dostępnego na górze strony. Po jego otrzymaniu skontaktujemy się, aby potwierdzić zgłoszenie i przekazać wszystkie informacje organizacyjne.


Wydarzenie: SPC Statystyczne Sterowanie Procesem + MSA Analiza Systemów Pomiarowych